掩模版制造光学量检测设备系列

珠海诚锋电子科技有限公司成立于2015年,总部位于珠海,公司在苏州、合肥、上海、北京、深圳、成都、武汉、长沙、泰国、新加坡等国内外设立分公司及办事处。

诚锋科技专注于半导体光学检测设备的研发、生产和销售,具有完全自主知识产权,目前已掌握了多套光学显微成像技术,全栈掌握并积累了多年的D2B/D2D/GDD等核心图形检测算法,在晶圆制造和掩模版制造领域都已推出多个量产机型,全方位助力半导体行业的制程监控和良率提升。

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Reticle缺陷检测设备 CFY210
掩模版制造光学量检测设备系列

CFY210 是应用在 MaskShop 生产过程检和出货检的AOI设备,诚锋的光罩检测技术可帮助光罩制造商识别光罩particle缺陷和图形缺陷。CFY210 支持多种检测模式,支持SMIF自动上下料和高速运动载台,既可以满足检测稳定性和产能需求,也可以满足超高洁净度要求,从而帮助客户提升良率。

Particle检测:贴膜前,最高分辨率可做到0.2um

图形检测:支持核心区域和外围区域,最高分辨率可做到0.2um


CFY210

具体参数/规格

√ 光路:透射/反射/散射

√ 算法:D2B/D2D

√ 分辨率:0.2um

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UV Reticle缺陷检测设备 CFY401
掩模版制造光学量检测设备系列

CFY401 是应用在 MaskShop 生产过程检和出货检的UV Reticle检测设备,诚锋的光罩检测技术可帮助光罩制造商识别光罩particle缺陷和图形缺陷。CFY401 支持多种检测模式,支持SMIF自动上下料和高速运动载台,既可以满足检测稳定性和产能需求,也可以满足超高洁净度要求,从而帮助客户提升良率。

Particle检测:贴膜前,最高分辨率可做到0.13um

图形检测:最高分辨率可做到0.13um


CFY401

具体参数/规格

√ 光路:透射/反射/散射

√ 算法:D2B/D2D

√ 分辨率:0.13um


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DUV Reticle缺陷检测设备 CFY501
掩模版制造光学量检测设备系列

CFY501 是正在开发中的一款DUV超高分辨率Reticle检测设备,2025年将推出,敬请期待。


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