汇聚全球最新光电科技 探索未来科技新发展
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第二十五届中国国际光电博览会（CIOE中国光博会），定于2024年璀璨金秋的9月11日至13日，在深圳国际会展中心盛大启幕。作为光电产业领域的旗舰盛会，本届光博会横跨光电全产业生态链，汇聚了全球范围内超过30个国家和地区的前沿力量，诚邀超3700家顶尖参展企业同台竞技，共襄盛举。
展会精心策划七大主题展区，深度覆盖信息通信技术前沿、精密光学创新、摄像头技术及其多元化应用、激光技术与智能制造革新、红外与紫外技术的尖端探索、智能传感技术的最新突破，以及新型显示技术的未来展望，全面构建了一个集材料研发、高端器件、先进设备、以及一站式解决方案于一体的综合采购与交流平台。
诚锋优选产品 惊艳亮相
FAB前段缺陷监控设备 CFW820 CFW820是一款用于FAB产线缺陷监控的光学检测设备，应用在ADI/AEI/Post CMP/OQC等多个工艺阶段，能够帮助客户快速筛选产线上影响产品质量的典型图形缺陷和表面缺陷，确保各种工艺稳定进行。CFW820，拥有超高的wafer传输兼容性，及5合1检测功能，配置多种光学放大倍率，具备双通道检测能力，能够兼顾灵敏度和吞吐率，搭配灵活易用的recipe管理功能，基于深度学习的ADC算法，助力客户产线稳定运行。 |  |
 | FAB前段工艺控制设备CFW920 CFW920是一款用于FAB前段工艺控制的光学检测设备，应用在ADI/AEI/Post CMP等多个工艺节点，助力客户发现工艺研发阶段和产能提升阶段影响良率的关键图形缺陷，提升良率。CFW920拥有100nm的缺陷灵敏度，双通道检测吞吐率，灵活易用的recipe管理功能，以及基于深度学习的ADC算法，帮助客户产线快速进入HVM阶段 |
FAB后段工艺光学检测设备CFW380 CFW380是一款用于晶圆封装阶段的后道工艺缺陷检测设备，应用在封装厂来料图形检测/划片后/扩膜后检测等多个工艺阶段，能够帮助客户快速筛选流水线上影响产品质量缺陷，确保产线稳定运行。同样拥有超高的wafer传输兼容性及图形检测能力，特具备优化的切割道检测算法，不但能够检测典型的切割道缺陷，如chipping，还能测量划片道宽度/扩膜后die间距/划片道与保护环间距等衡量后道工艺质量的关键参数，帮助客户改善工艺质量，提升良率。 | |
感恩相遇 携手未来
展会期间，我们的展位吸引了众多观众和专业人士的关注。
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| 他们对诚锋的产品表现出浓厚的兴趣，并积极与我们团队交流。 | 这为我们提供了一个宝贵的机会，了解市场需求，获取用户反馈，同时也让我们的品牌得到更广泛的认可 |
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